覆層測(cè)厚儀采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法，可無(wú)損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)，以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。
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leeb 210 |
leeb211 |
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工作原理 |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
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測(cè)量范圍 |
0~1250μm |
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低限分辨率 |
0.1μm |
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示值誤差 |
一點(diǎn)校準(zhǔn) |
±（3%H+1） |
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二點(diǎn)校準(zhǔn) |
±[（1~3%)H+1] |
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測(cè)試條件 |
曲率半徑mm |
凸1.5 |
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面積直徑mm |
Φ7 |
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基本臨界厚度mm |
0.5 |
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工作環(huán)境 |
溫度 |
0~40℃ |
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濕度 |
20%~90% |
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磁場(chǎng) |
無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境 |
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外形尺寸 |
115×70×30mm (主機(jī)） |
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重量 |
152g |
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